1. Characterization in silicon processing /editor, Yale Strusser ; contributing editors, C.R. Brundle, Gary E. McGuire ; managing editor, Lee E. Fitzpatrick.
پدیدآورنده:
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Silicon.,Electric conductors.,Semiconductor films.,Surface chemistry
رده :
QC
611
.
8
.
S5C48
1993
2. Characterization of organic thin films
پدیدآورنده: editors, Yale Strausser and Gary E. McGuire
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: ، Organic thin films
رده :
QC
176
.
9
.
O73
C48
2010
3. Characterization of organic thin films
پدیدآورنده: editors Yale Strausser and Gary E. McGuire; series editors C. Richard Brundle and Charles A. Evans, Jr.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه علوم و فناوری رنگ (تهران)
موضوع: Organic compounds,Thin films
رده :
{
1648
},
a5d7232530392813b3a4e18c1fed88f3
